GBT 5170.2-2017 環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第2部分：溫度試驗設(shè)備.pdf

GB/T 5170.2-2017環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第2部分∶溫度試驗設(shè)備

1  范圍

GB/T5170的本部分規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備（以下簡稱“設(shè)備”）的檢驗項目、檢驗用儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。

本部分適用于對GB/T 2423.1、GB/T 2423.2和GB/T 2423.22所用設(shè)備的檢驗。本部分也適用于類似設(shè)備的檢驗。

2  規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T 2423.1  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗A∶低溫

GB/T 2423.2  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗 B∶高溫

GB/T 2423.22 環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗N∶溫度變化

GB/T 5170.1-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第1部分∶總則

GB 12348-2008  工業(yè)企業(yè)廠界環(huán)境噪聲排放標(biāo)準(zhǔn)