GBT 5170.10-2017 環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第10部分：高低溫低氣壓試驗設(shè)備.pdf

GB/T 5170.10-2017環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第10部分∶高低溫低氣壓試驗設(shè)備

1  范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設(shè)備（以下簡稱“設(shè)備”）的檢驗項目、檢驗用儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。

本部分適用于對GB/T 2423.21、GB/T 2423.25和GB/T 2423.26所用設(shè)備的檢驗。本部分也適用于類似設(shè)備的檢驗。

2  規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T 2423.21  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗M∶低氣壓

GB/T 2423.25  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗Z/AM∶低溫/低氣壓綜合試驗

GB/T 2423.26  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗Z/BM∶高溫/低氣壓綜合試驗

GB/T 5170.1—2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第1部分∶總則

GB 12348—2008  工業(yè)企業(yè)廠界環(huán)境噪聲排放標(biāo)準

3  術(shù)語和定義

GB/T 5170.1——2016界定的術(shù)語和定義適用于本文件。